深圳光博會期間是德科技發(fā)布的新品為：帶內置56GBaud時鐘恢復CDR功能的采樣示波器N1092系列產品;支持FEC交互測試的N4891A分析儀。

這兩款新產品均是面向400G光模塊生產測試，將進一步完善是德科技現(xiàn)有400G測試設備系列產品，同時將加快400G光模塊產業(yè)進程。

N1092內置集成CDR的方案實際上是N1092和N1078A的組合方案，作為一體化解決方案可大限度地降低連接復雜性并降低成本?？蛻艨梢詫⒐庑盘栔苯舆B接到N1092 / CDR而無需復雜的去連接兩臺分立的儀器(N1092和N1078A)。N1092即可向上兼容也可以向下兼容，即可測試從25G到400G PAM4光模塊。同時推出兩個版本一個測試光通道和兩個測試光通道，客戶可根據(jù)自身要求進行選擇適合自己的產品。

在400G PAM4光模塊中，Transmitter and dispersion eye closure Quaternary(TDECQ)將變成最重要的測試指標，而N1092設備則主要側重該指標的測試。

另一款同期發(fā)布的新產品N4891A主要針對基于PAM4的模塊和組件進行FEC交互物理層測試。IEEE 802.3bs / cd規(guī)范將幀丟失率(FLR)的衡量添加到400GBASE接口的一致性測試中。FLR必須在由M8040A高性能BERT生成校準過的標準壓力信號的情況下進行測量，以確定物理層損害對前向糾錯(FEC)性能的影響。N4891A是業(yè)界首個支持該應用，并針對400GAUI-8和400GBASE-LR8 / -FR8 / -SR8接口設計的方案。

這兩款測試設備的發(fā)布，將可極大促進PAM4光模塊產業(yè)的發(fā)展。一方面其不但可以用于研發(fā)階段幫助研發(fā)人員發(fā)現(xiàn)產品所存在的問題，同時也可以用于大批量生產過程中，用于產線上的出廠前測試。由于這兩款產品都對相關測試性能進行了優(yōu)化組合，同時擯棄一些不常用的性能而留下關鍵的重要的測試性能，因此其價格方面也相對便宜，可用于轉產后大批量生產過程中的測試。